厚さ変動周波数解析装置
フィルムの流れ方向の厚さ変動をリアルタイムで周波数解析
| 型式 | TFA |
|---|---|
製品の特徴
・複数の定点センサの計測値を連続かつ高速に取り込み、リアルタイムで周波数解析をします。
・製造ラインからの測長パルス、ロット切替信号と連動させることで、異常個所の特定ができます。
・閾値超過を検知し警報を出力することも可能なため、製造現場における品質管理に役立ちます。
・現在ご使用のセンサに合わせてカスタマイズ可能です。
製品の仕様
| センサ接続数 | 最大 3点 |
|---|---|
| サンプリング 速度 | 1 ms～ |
| 電源電圧 | 単相AC100 Vまたは200 V 50/60 Hz |